主要技术指标

光源：Cu靶

X光管工作电压 ：≤ 40kV、电流 ≤40mA

测角仪工作方式：θ/θ方式

扫描范围：0～100°

测角仪精度：0.0001°，准确度 ≤ 0.02°

样品行程：X轴：100 mm；Y轴：100 mm；

Z轴：50 mm，0.01 mm /步

样品最大高度：90 mm

Phi：360°，0.01°/步

Chi：-5～+45°，0.01°/步

二维探测器：VANTEC 500，活性面积直径135mm

功能用途

材料的物相分析